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簡要描述：X3可見分光光度計325-1100nm光譜分析儀特點：1、光學(xué)系統(tǒng)，高性能1200條/nm光柵和進口鎢燈及檢測器保證儀器優(yōu)良的性能指標(biāo)。2、寬大的樣品室能容納5-100mm各種規(guī)格的比色皿。3、波長屏幕顯示，顯示分辨率為0.1nm，讀數(shù)穩(wěn)定，準(zhǔn)確。5、并口打印，選配專用打印機，打印測試結(jié)果。6、新的微機處理技術(shù)使操作更加簡便。
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：代理商更新時間：2023-02-22訪 問 量：1640名 稱：可見分光光度計
型 號：X3
品 牌：滬粵明
X3可見分光光度計325-1100nm光譜分析儀產(chǎn)品應(yīng)用：
可見分光光度計(又名可見光度計、分光光度計)是采用可見光分光光度法?？梢姺止夤舛扔嬍且环N結(jié)構(gòu)簡潔、使用方便的單光束分光光度計，基于樣品對單色光的選擇吸收特性可用于對樣品進行定性和定量分析。其定量分析根據(jù)相對測量原理工作，即選定樣品的溶劑(或空氣 )作為標(biāo)準(zhǔn)試樣，設(shè)定其透射比為100%，被測樣品的透射比則相對于標(biāo)準(zhǔn)試樣(或空氣)而得到。
廣泛地用于食品、藥品、電力、生物研究、教學(xué)科研、化學(xué)化工、質(zhì)量監(jiān)督、水質(zhì)環(huán)保、光學(xué)、化學(xué)、機械和商檢等科學(xué)研究領(lǐng)域以及光學(xué)器材制造、鍍膜行業(yè)、寶石業(yè)、化學(xué)工業(yè)、冶金工業(yè)等企業(yè)事業(yè)單位進行快速檢測和精確分析。
X3可見分光光度計325-1100nm光譜分析儀特點：
1、光學(xué)系統(tǒng)，高性能1200條/nm光柵和進口鎢燈及檢測器保證儀器優(yōu)良的性能指標(biāo)。
2、寬大的樣品室能容納5-100mm各種規(guī)格的比色皿。
3、波長屏幕顯示，顯示分辨率為0.1nm，讀數(shù)穩(wěn)定，準(zhǔn)確。
5、并口打印，選配專用打印機，打印測試結(jié)果。
6、新的微機處理技術(shù)使操作更加簡便。
7、自動調(diào)整波長，儀器自動調(diào)OA和100%T一鍵校準(zhǔn)無需放入黑體。
儀器功能：
1、光度測量∶固定波長下檢測樣品的吸光度和透過率。
2、定量測量∶C模式下單點法測試
F模式下可輸入C=KA+B準(zhǔn)確測量濃度
可見分光光度計技術(shù)指標(biāo)特點：
產(chǎn)品型號 | X3 | 723N | 7230G | 723C（723) | |
波長范圍 | 325-1100 nm | 325-1100 nm | 325-1100 nm | 325-1100 nm | |
波長分辨率 | 0.1 nm | 0.1 nm | 0.1 nm | 0.1 nm | |
光譜帶寬 | 2nm | 2nm | 3.8nm | 3.8nm | |
波長精度 | ±1nm | ±1nm | ±2nm | ±1nm | |
波長重復(fù)性 | 0.5nm | 0.5nm | 1nm | 0.5nm | |
光度范圍 | -0.3-3.0A，0-200%T | ||||
光度精度 | ±0.3%T | ±0.5%T | |||
光度重復(fù)性 | ≤0.2%T | ||||
光度穩(wěn)定性 | ±0.002A/h @500nm | ||||
雜散光 | ≤0.1%T@360nm | ≤0.2%T@360nm | |||
基線平直度 | ±0.002A | ||||
基線漂移 | ±0.002A/h | ||||
工作方式 | T、A、C、F | ||||
調(diào)零方式 | 自動 | ||||
光 源 | 進口鎢燈 | ||||
單色器 | CT式 | ||||
尺 寸 | 470*370*200mm | ||||
重 量 | 13Kg | ||||
電 源 | 220V\50HZ | ||||
